對結(jié)構(gòu)工程師來說，最難解決的問題可能就是可靠性問題了，這些問題往往都是看的見，摸不著，這就不要結(jié)構(gòu)工程師有很好的分析問題的能力，工程師能力的強弱在分析可靠性問題方面有一個比較好的比較，但首先，我們必須了解可靠性實驗的方法和標(biāo)準(zhǔn)，每個公司的標(biāo)準(zhǔn)和測試方法可能有所不同，但大致是差不多的；

     總的來說，可靠性測試大致分為如下及類：加速壽命測試ALT，氣候適應(yīng)性測試，結(jié)構(gòu)耐久測試，表面裝飾測試，特殊條件測試；結(jié)構(gòu)上最容易出問題的經(jīng)常都是跌落試驗，重復(fù)跌落，滾筒等幾項；本文就對結(jié)構(gòu)問題比較多的可靠性實驗做一個介紹：

1.跌落試驗（Drop Test）

l  測試環(huán)境：室溫（20-25℃）

l  測試目的：暴露因高低溫沖擊引誘的樣品缺陷

l  參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.8-1995

l  測試設(shè)備：跌落測試機

l  測試檢查項目：

1）電性能參數(shù)測試：如果被測試樣品為GSM/DCS，參照附錄一進行參數(shù)測試。如果被測試樣品為CDMA，參照附錄二進行參數(shù)測試。

2）功能測試：撥打電話，顯示、鈴聲、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能。

3）結(jié)構(gòu)測試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、Lens、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。

4）外觀測試：噴涂、印刷、電鍍等，以及未描述到的外觀。

5）內(nèi)存時鐘：樣機中存中存入5個電話和5 條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間。

l  測試方法：

 1）樣機中存中存入5個電話和5 條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間。

2）將樣機設(shè)置為開機插卡狀態(tài)，對手機進行6個面1.5m的自由跌落實驗，每個面的跌落次數(shù)為2次，每個面跌落面都要對手機的外觀、結(jié)構(gòu)、內(nèi)存、時間和功能進行檢查。

3）跌落順序為：

       直板及翻蓋手機：左側(cè)面、背面、右側(cè)面、底面、頂面、正面。

       滑蓋手機：底面、頂面、背面、正面、左側(cè)面、右側(cè)面。

4）跌落過程中，對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品打開到使用位置，一半樣品閉合為初始狀態(tài)；對于滑蓋手機應(yīng)將一半樣品合上滑蓋，一半樣品將滑蓋打開到上限位置。5）若樣品數(shù)量為奇數(shù)，則多的一臺打開翻蓋或滑開滑蓋。

6）測試條件：跌落高度1.5m，20mm厚的大理石地板。（對于PDA手機，根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為1.3m）

l  測試標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀、結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存時間無異常。

1）參數(shù)測試：與綜測儀連接進行參數(shù)測試，電性能符合測試要求。

2）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動、LED、揚聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無異常。

3）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、logo及cover等無脫落，殼體卡鉤無脫出、斷裂；LCD無破裂；天線無脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無松動、錯位、脫出或斷裂；滑蓋無松動、脫出、斷裂、晃動無異響，Lens無破裂、脫落以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；

 4）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆，無裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象

5）樣品內(nèi)存：時鐘無異常（內(nèi)存無丟失、時鐘無混亂、復(fù)位、超前、滯后等；

 6）備注：電池/電池蓋脫落、關(guān)機及掉卡等、如重啟無異常，不記錄為有問題。

2 重復(fù)跌落測試（Micro-Drop Test）

l  測試環(huán)境：室溫（20~25）℃

l  測試目的：驗證樣品重復(fù)跌落的可靠性

l  測試設(shè)備：桌面跌落機

l  測試樣品數(shù)量：不少于2臺樣機

l  測試檢查項目：

1）參數(shù)測試：如果被測試樣品為GSM/DCS，參照附錄一進行參數(shù)測試。如果被測試樣品為CDMA，參照附錄二進行參數(shù)測試

2）功能測試：撥打電話、顯示、鈴聲、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能

3）結(jié)構(gòu)測試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、Lens、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)4）外觀測試：噴涂、印刷、電鍍，以及其它未描述到的外觀；

5）內(nèi)存時鐘：存入5個電話和5條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間

l  測試方法：

1）在手機中預(yù)存入5個電話和5條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間。

2）將樣機設(shè)置為開機狀態(tài)，插入測試卡，進行7cm重復(fù)跌落50,000次，第5,000次對樣品進行功能、結(jié)構(gòu)、外觀、內(nèi)存及時間的檢查。

3）跌落速率為：20次/分鐘。

4）跌落高度：7cm。

5）跌落時一半樣品跌正面，一半樣品跌背面。

l  試驗標(biāo)準(zhǔn)：重復(fù)跌落50,000次后，對樣品進行如下檢查

1）參數(shù)測試：可與綜測儀建立連接進行參數(shù)測試，手機參數(shù)應(yīng)符合測試要求

3）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動、LED、揚聲器、受話器、回音、按鍵、指示燈、拍照、充電等功能無異常，無關(guān)機、掉卡現(xiàn)象以及其它未描述到的功能均正常。

3）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、Logo及Cover 等無脫落，殼體、卡鉤無脫出、斷裂；LCD無破裂；天線無脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無松動、錯位、脫出或斷裂；滑蓋無松動、脫出、斷裂；晃動無異響；Lens無破裂、脫落以及其他與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

4）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆、無裂紋、破損、沖擊痕以及其他與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

5）樣品內(nèi)存：時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂、復(fù)位、超前或滯后等）；

3.滾筒跌落測試（Free Fall Test）

l  測試環(huán)境：室溫（20-25℃）

l  測試目的：驗證手機疲勞跌落的可靠性

l  參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.8-1995； IEC 68-2-32:1990

l  測試設(shè)備：滾筒跌落測試機

l  測試樣品數(shù)量：不少于2臺

l  測試檢查項目：

1）參數(shù)測試：如果被測試樣品為GSM/DCS，參照附錄一進行參數(shù)測試。如果被測試樣品為CDMA，參照附錄二進行參數(shù)測試。

2）功能測試：撥打電話，顯示、鈴聲、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能。

3）結(jié)構(gòu)測試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、Lens、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。

4）外觀測試：噴涂、印刷、電鍍等，以及未描述到的外觀。

5）內(nèi)存時鐘：樣機中存中存入5個電話和5 條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間。

l  測試方法：

1）將樣機設(shè)置為開機不插卡狀態(tài)，樣機中存入5個電話和5 條短信息，設(shè)置手機時鐘為當(dāng)前日期時間。

2）將樣品放入滾筒跌落試驗機，進行高度為500mm的1000次隨機跌落測試。

3）每100次對樣品進行功能與結(jié)構(gòu)檢查，每500次進行電性能檢查。

4）對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品打開到使用位置，一半樣品閉合為初始狀態(tài)；對于滑蓋手機應(yīng)將一半樣品合上滑蓋，一半樣品將滑蓋打開到上限位置。

l  測試標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀、結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存時間無異常。

參數(shù)測試：樣品電性能測試合格。

2）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動、LED、揚聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無異常。

3）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、logo及cover等無脫落，殼體卡鉤無脫出、斷裂；LCD無破裂；天線無脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無松動、錯位、脫出或斷裂；滑蓋無松動、脫出、斷裂、晃動無異響，Lens無破裂、脫落以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

4）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆，無裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

5）樣品內(nèi)存：時鐘無異常（內(nèi)存無丟失、時鐘無混亂、復(fù)位、超前、滯后等）

6）備注：電池/電池蓋脫落、關(guān)機及掉卡等、如重啟無異常，不記錄為有問題。