我們今天的目的之一是讓您能夠更好地理解在噪聲系數(shù)測量中的測量精度問題，測量精度無論是對產(chǎn)品研發(fā)還是對產(chǎn)品生產(chǎn)都是很重要的。

精確測量噪聲系數(shù)的重要性

在產(chǎn)品研發(fā)過程中，更高的噪聲系數(shù)測量精度不僅意味著在產(chǎn)品的仿真和測量結(jié)果之間可以有更好的相關(guān)性，有助于設(shè)計人員更快地把電路模型精細(xì)化，它還意味著系統(tǒng)設(shè)計人員可以對諸如雷達之類的發(fā)射/接收系統(tǒng)的性能進行更好的優(yōu)化。當(dāng)把系統(tǒng)的性能指標(biāo)分解成系統(tǒng)所有各個部件的性能指標(biāo)時，系統(tǒng)設(shè)計人員必須要根據(jù)測量精度給每個器件的指標(biāo)增加防護頻帶，器件的設(shè)計人員也會據(jù)此對其器件進行性能驗證。具體說到噪聲系數(shù)，改善的測量精度和更小的防護頻帶意味著 LNA 可以有更好的技術(shù)指標(biāo)，進而達到使用較小功率的發(fā)射放大器就能夠獲得同樣的系統(tǒng)總體 SNR 的目的。由此可以使用更小、更輕、更便宜的發(fā)射機，這對于機載和星載應(yīng)用是極為重要的。

在產(chǎn)品的生產(chǎn)測試中，改善的測量精度還可以允許使用較小的防護頻帶，這樣可以在多個測試站的測量結(jié)果中取得更好的相關(guān)性，這意味著需要返工的產(chǎn)品越來越少，良率和吞吐量都大有提高，測試成本也進一步下降。更小的防護頻帶還可以讓產(chǎn)品的技術(shù)指標(biāo)更出色、更具競爭性，從而可以以更高的價格銷售或是占據(jù)更多的市場份額。

噪聲系數(shù)概述

什么是噪聲系數(shù) ?

噪聲系數(shù)是用來描述一個系統(tǒng)中出現(xiàn)的過多的噪聲量的品質(zhì)因數(shù)。把噪聲系數(shù)降低到最小的程度可以減小噪聲對系統(tǒng)造成的影響。在日常生活中，我們可以看到噪聲會降低電視畫面的質(zhì)量，也會使無線通信的話音質(zhì)量變差；在諸如雷達等的軍用設(shè)備中，噪聲會限制系統(tǒng)的有效作用范圍；在數(shù)字通信系統(tǒng)中，噪聲則會增加系統(tǒng)的比特誤碼率。系統(tǒng)設(shè)計人員總是在盡最大努力使整個系統(tǒng)的信噪比 (SNR) 達到最優(yōu)，為了達到這個目的，可以用把信號提高的辦法，也可以用把噪聲降低的辦法。在像雷達這樣的發(fā)射/接收系統(tǒng)中，提高信噪比的一種方法是用更大的大功率放大器來提高發(fā)射信號的功率，或使用大口徑天線。降低在發(fā)射機和接收機之間信號傳輸路徑上的損耗也可以提高 SNR，但是信號在傳輸路徑上的損耗大都是由工作環(huán)境所決定的，系統(tǒng)設(shè)計人員控制不了這方面的因素。還可以通過降低由接收機產(chǎn)生的噪聲來提高 SNR－通常這都是由接收機前端的低噪聲放大器 (LNA) 的質(zhì)量決定的。與使用提高發(fā)射機功率的方法相比，降低接收機的噪聲 (以及讓接收機的噪聲系數(shù)的指標(biāo)更好) 的方法會更容易和經(jīng)濟一些。

噪聲系數(shù)的定義是很簡單和直觀的。網(wǎng)絡(luò)的噪聲因子 (F) 的定義是輸入信號的 SNR 除以輸出信號的 SNR:

F = (Si/Ni)/(So/No)，式中:

Si = 輸入信號的功率

So = 輸出信號的功率

Ni = 輸入噪聲功率

No = 輸出噪聲功率

把噪聲因子用分貝 (dB) 來表示就是噪聲系數(shù) (NF): NF = 10*log (F)

這個對噪聲系數(shù)的定義對任何電子網(wǎng)絡(luò)都是正確的，包括那些可以把輸入信號的頻率變換為另外一個輸出頻率的電子網(wǎng)絡(luò)，例如上變頻器或下變頻器。

為了更好地理解噪聲系數(shù)的定義，我們以放大器為例。放大器的輸出信號的功率等于放大器輸入信號的功率乘以放大器的增益，如果這個放大器是一個很理想的器件的話，其輸出端口上噪聲信號的功率也應(yīng)該等于輸入端口上噪聲信號的功率乘以放大器的增益，結(jié)果是在放大器的輸入端口和輸出端口上信號的 SNR 是相同的。然而，實際情況是任何放大器輸出信號的噪聲功率都比輸入信號的噪聲功率乘以放大器的增益所得到的結(jié)果大，也就是說輸出端口上的 SNR 要比輸入端口上的 SNR 小，即噪聲因子 F 要大于 1，或者說噪聲系數(shù) NF 要大于 0 dB。

在測量并比較噪聲系數(shù)時，必須要注意的是我們在測量過程中是假定測試系統(tǒng)能夠在被測器件 (DUT) 的輸入端口和輸出端口上提供非常完美的 50 Ω 端接負(fù)載。但在實際測量中，這樣完美的條件永遠(yuǎn)不會存在。稍后我們會討論如果測試系統(tǒng)沒有完美的 50 Ω，系統(tǒng)會對噪聲系數(shù)的測量精度造成怎樣的影響。同時，我們也會講解各種校準(zhǔn)和測量方法如何校正由于不理想的 50 Ω 源匹配引起的誤差。

另一種用來表達由放大器或系統(tǒng)引入的附加噪聲的術(shù)語是有效輸入溫度 (Te)。為了理解這個參數(shù)，我們需要先看一下無源端接所產(chǎn)生的噪聲量的表達方式－kTB，其中 k 是玻爾茲曼常數(shù)，T 是以開爾文為單位的端接溫度，B 是系統(tǒng)帶寬。因為在某個給定的帶寬內(nèi)，器件產(chǎn)生的噪聲和溫度是成正比的，所以，器件所產(chǎn)生的噪聲量可以表示為帶寬歸一化為 1 Hz 的等效噪聲溫度。例如，一個超噪比 (ENR) 為 15 dB 的商用噪聲源所產(chǎn)生的電噪聲等效于溫度為 8880 K 的負(fù)載端接。任何一個實際器件的噪聲系數(shù)都可以表示為一個有效輸入噪聲溫度。顯然 Te 不是放大器或變頻器的實際物理溫度，它是輸入端接與一個噪聲為零的理想器件相連時的等效溫度 (單位為開爾文)，該器件在輸出端口上會產(chǎn)生同樣大小的附加噪聲，Te 與噪聲因子的關(guān)系是:

Te = 290*(F - 1)

圖 1 顯示了 Te 和噪聲系數(shù)的關(guān)系曲線。雖然大部分 LNA 的特征是用噪聲系數(shù)來描述的，但是當(dāng) LNA 的噪聲系數(shù)小于 1 dB 時，就會經(jīng)常用 Te 來描述其噪聲特征。在進行與噪聲功率相關(guān)的計算時，Te 也是一個很有用的參數(shù)。

圖 1. 有效噪聲溫度和噪聲系數(shù)的關(guān)系

噪聲系數(shù)的測量技術(shù)

有兩種測量噪聲系數(shù)的主要方法。最常用的是 Y 因子法或冷熱源法，科技的噪聲系數(shù)分析儀和頻譜分析儀都是用這種方法測量噪聲系數(shù)。

Y 因子法使用經(jīng)過校準(zhǔn)的噪聲源－包括專門設(shè)計的通/斷噪聲二極管，在噪聲源的后面還有一個可提供較好的輸出匹配的衰減器 (圖 2)。當(dāng)二極管關(guān)閉，即沒有偏置電流存在時，噪聲源會對被測器件呈現(xiàn)出室溫端接負(fù)載。當(dāng)二極管被反向偏置時，它所產(chǎn)生的雪崩效應(yīng)會產(chǎn)生一個超過室溫端接負(fù)載的電噪聲，這個額外產(chǎn)生的噪聲量被表征為 "超噪比" (即 ENR)。對于一個給定的噪聲源，ENR 的值會隨著頻率而變化。根據(jù)內(nèi)部衰減器的情況的不同，典型噪聲源的 ENR 標(biāo)稱值的范圍在 5 dB 到 15 dB 之間。使用噪聲源可以在被測器件的輸出端口得到兩個噪聲功率的測量結(jié)果，這兩個測量結(jié)果的比值 (稱為 Y 因子) 可用來計算噪聲系數(shù)。使用 Y 因子法進行測量還能生成被測器件的標(biāo)量增益。

圖 2. 超噪源的原理圖

第二種測量噪聲系數(shù)的方法是冷源法，有時也把這種方法叫做直接噪聲測量法。在被測器件的輸入端口連接一個冷 (通常是室溫的) 端接負(fù)載，另外再單獨測量被測器件的增益。使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 測量噪聲系數(shù)就經(jīng)常采用冷源法，因為這可以使我們在測量放大器或變頻器時，只需通過單次連接，就可以完成諸如 S 參數(shù)、壓縮、噪聲系數(shù)等多項指標(biāo)的測試。

Y 因子法

我們在這里要詳細(xì)介紹 Y 因子法。使用噪聲源我們可以進行兩個噪聲功率測量。一個是在噪聲源處在冷狀態(tài) (噪聲二極管關(guān)閉) 下進行，另一個是在噪聲源處在熱狀態(tài) (噪聲二極管打開) 下進行。從這兩個測量和噪聲源已知的 ENR，我們就可以計算出兩個變量: 被測放大器的標(biāo)量增益和噪聲系數(shù)。

在對被測器件進行測量的同時，測試儀器中的噪聲接收機的噪聲也會被測量到。為了去除附加噪聲對測量結(jié)果的影響，在測量開始之前需要進行校準(zhǔn)，校準(zhǔn)的過程就是把噪聲源與測試儀器相連，然后測量內(nèi)部噪聲接收機的噪聲系數(shù)。使用一個簡單的數(shù)學(xué)表達式就可以把被測器件的噪聲系數(shù)從整個系統(tǒng)的噪聲測量結(jié)果中提取出來。這一步驟被叫做第二級噪聲校正，這是因為被測器件的噪聲系數(shù)是基于測試儀器中的噪聲接收機在第二級的增益和噪聲系數(shù)進行校正的。

如果我們把放大器的輸出噪聲功率與其輸入噪聲功率的關(guān)系畫成圖的話，只要這個放大器是線性的，那么關(guān)系圖曲線就會是一條直線，如圖 3 所示。對于 LNA 來說，這是一個很好的假設(shè)，因為它們的目的就是放大那些遠(yuǎn)離放大器壓縮區(qū)域的低電平信號。即便是輸入噪聲為零，由于放大器內(nèi)部有源電路自身會產(chǎn)生噪聲的機理，在放大器的輸出端口上還是會有一定的噪聲。這個由放大器自身所產(chǎn)生的噪聲就是噪聲系數(shù)測量中所要標(biāo)定的量。從圖中我們就可以輕松地看出，為什么在求解放大器的增益 (直線的斜率) 和噪聲系數(shù) (從 Y 軸截獲點導(dǎo)出) 時需要進行上述兩個噪聲功率測量。

圖 3. Y 因子法的圖解

冷源法

我們在這里要詳細(xì)介紹冷源法。冷源法的技術(shù)在概念上是很簡單的，被測器件的輸入端始終在室溫 (所謂的 "冷" 端接) 條件下，只進行噪聲功率測量，測得的噪聲是經(jīng)放大的輸入噪聲再加上放大器或變頻器所產(chǎn)生的噪聲。如果可以精確地知道放大器的增益 (或變頻器的變頻增益)，那么就可以從測量結(jié)果中把經(jīng)放大的輸入噪聲去掉，只留下由被測器件產(chǎn)生的噪聲，由此就可以計算出噪聲系數(shù)。為了能夠在冷源法測量中得到精確的結(jié)果，我們必須要對被測器件的增益了如指掌。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀使用 2 端口矢量誤差校正技術(shù)和其他先進的校準(zhǔn)方法可以達到冷源法所需的精度，因此，冷源法是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進行噪聲系數(shù)測量的理想選擇。

同 Y 因子法一樣，冷源法也需要一個校準(zhǔn)步驟來表征儀器內(nèi)部噪聲接收機的噪聲系數(shù)和增益。另外，這一步驟也需要一個噪聲源來完成；或者也可以使用功率計做掃頻測量來確定接收機的有效噪聲帶寬。注意，冷源法所使用的噪聲源或功率計只是在校準(zhǔn)時才用到，被測器件進行測量時就不需要。

圖 4 是輸出噪聲功率與輸入噪聲功率的關(guān)系圖，在這里，我們可以單獨測量被測器件的增益而得到這條直線的斜率。接下來只需進行一次功率測量就能確定這條直線和 Y 軸的交點，從而確定該直線在圖中的位置，這樣就可以推導(dǎo)出被測器件的噪聲系數(shù)。

圖 4. 冷源法的圖解

注意，當(dāng)使用 VNA 測量被測器件的增益時可以采用矢量誤差校正技術(shù)，由此得到的增益測量結(jié)果要比用 Y 因子法測得的更加精確。矢量誤差校正要求對被測器件的四個 S 參數(shù)都進行測量，這需要分析儀做正向和反向兩次掃描。在后面我們將會討論如何利用被測器件經(jīng)過校正的 S11 和 S22 參數(shù)來校正測量結(jié)果中的其他誤差。冷源法已經(jīng)被進一步開發(fā)和應(yīng)用到變頻器的測量，其中輸入頻率和輸出頻率并不相同。

限制測量精度的因素

使用 Y 因子法測量時的假設(shè)條件

Y 因子法的測量精度依賴于對放大器和測試系統(tǒng)所做的幾個假設(shè)，這些假設(shè)條件的有效性會因測試系統(tǒng)和被測器件的 S 參數(shù)和噪聲參數(shù)不同而變化。

第一個假設(shè)條件是噪聲源與被測器件具有良好的 50 Ω 匹配。這種假設(shè)雖然不是很完美，但是當(dāng)被測器件與噪聲源直接連接時，特別是使用 ENR 較小的噪聲源時 (ENR 較小的噪聲源比 ENR 較大的噪聲源往往有更好的匹配)，這種假設(shè)還是比較合理的。不過，當(dāng)在噪聲源和被測器件之間加入了其他的電網(wǎng)絡(luò)時，這種假設(shè)就不是很好了。我們稍后會看到，與理想的 50 Ω 源匹配的偏離會在測量結(jié)果中造成相當(dāng)大的誤差。

我們在后面會舉幾個例子，您可以看到把噪聲源與被測器件直接連接在一起要么不切實際，要么就根本不可能。首先，很多航空航天/國防設(shè)備和商用微波通信設(shè)備本身是沒有同軸連接器的，例如，相控陣?yán)走_系統(tǒng)上的很多發(fā)射/接收模塊都有輸入輸出微帶線，要求測試夾具和商用同軸測試設(shè)備進行連接。另一個例子是單片微波集成電路 (MMIC)，對它們的測試往往是在把它們進行封裝之前直接在半導(dǎo)體晶圓上進行，在這種情況下，必須使用同軸共面測試探頭把測試設(shè)備接到被測器件。在上述實例中，我們都沒有辦法把噪聲源和被測器件直接進行連接。

在很多情況下即便是被測器件有同軸連接器，但是由于需要用自動測試設(shè)備 (ATE) 進行測量，需要同時連接多臺儀器來充分表征被測器件的特征，例如，需要用網(wǎng)絡(luò)分析儀測量 S 參數(shù)和增益壓縮，用頻譜分析儀、信號源和噪聲源測量互調(diào)失真和噪聲系數(shù)等特征，在這種情況下，就必須在測試設(shè)備和被測器件之間增加一個開關(guān)矩陣，因此，當(dāng)測量噪聲系數(shù)時，也是無法把噪聲源直接接到放大器的輸入端口。

在無法把噪聲源和被測器件的輸入端口直接相連的情況下，附加的電纜、適配器、開關(guān)、測試夾具和/或探頭都會引起額外的損耗和反射，這些會使測試系統(tǒng)的有效源匹配性能降低。雖然通過把噪聲源的 ENR 值進行標(biāo)量校準(zhǔn)可以減輕測量附件帶來的損耗影響，但是源匹配的劣化所造成的影響是不容易去除的，這自然會導(dǎo)致測量精度下降。

第二個假設(shè)條件是噪聲源的輸出匹配在冷熱兩種狀體下是不變的。實際情況則是有一些變化存在，因為噪聲二極管的阻抗在其有偏置電壓和無偏置電壓的條件下是不一樣的。對于 ENR 小并且在二極管和輸出連接器之間的衰減比較大的噪聲源，這種冷熱狀態(tài)的變化導(dǎo)致的阻抗變化會小一些。

第三個假設(shè)條件是無論連接的是噪聲源還是被測器件，測試儀器中的噪聲接收機的噪聲系數(shù)都是一樣的，即便是這兩種不同的器件與噪聲接收機相連時所呈現(xiàn)的源阻抗有所不同。不過實際情況是噪聲接收機的噪聲參數(shù)將確定其噪聲系數(shù)如何隨源阻抗而變化，這意味著第二級噪聲校正應(yīng)根據(jù)被測器件的 S22 參數(shù)進行調(diào)整。

最后一個假設(shè)條件是與放大器的可用增益有關(guān)，在計算放大器的噪聲系數(shù)時會用到這個指標(biāo)，它是放大器的輸入和輸出端口都是共軛匹配的情況下放大器的增益。使用 Y 因子法測得的增益實際上是標(biāo)量功率增益，只有當(dāng)被測器件的輸入和輸出匹配接近 50 Ω 時，這個標(biāo)量功率增益才接近于放大器的可用增益。對于一些匹配很差的器件，例如沒有匹配的晶體管，要想得到真正的可用增益需要測量其全部 4 個 S 參數(shù)，如果不使用 VNA 是沒有辦法做到的。

這些假設(shè)條件對 Y 因子法測量精度的影響可通過噪聲系數(shù)不確定度計算器很好地進行分析，該程序涵蓋了所有因素所產(chǎn)生的影響，稍后我們會舉例說明這個計算器程序給出的分析結(jié)果。在下一節(jié)內(nèi)容中，我們將對 Y 因子法和冷源法的測量精度做更為詳細(xì)的分析。

噪聲系數(shù)測量結(jié)果中不確定性的來源

為了能夠理解噪聲系數(shù)測量精度和不同測試方法的區(qū)別，我們必須要理解測試系統(tǒng)中誤差的來源以及它們是如何與被測器件互相作用的。有各種因素都會造成噪聲系數(shù)測量結(jié)果中的不確定性。使用不同的測試方法和不同級別的誤差校正會導(dǎo)致測量結(jié)果中誤差的幅度大為不同，有些誤差的來源對于兩種測試方法來說是共有的，而有些誤差來源則是每種測試方法所特有的。

共有的誤差來源包括儀器的不確定性和 ENR 的不確定性，通常測試儀器中只有這兩個誤差來源是標(biāo)有指標(biāo)的。ENR 的不確定性由噪聲源的制造商給出，其大小取決于表征超噪比所用的測試方法；儀器的誤差通常是最小的誤差源。但是如果認(rèn)為總體測量精度僅僅取決于上述兩個技術(shù)指標(biāo)那就錯了。

抖動是兩種測試方法中另一個共有的測量誤差來源，它來自于對低電平隨機信號 (噪聲) 的測量。抖動是用來對一個噪聲很大的信號的平均噪聲功率測量精度進行定量分析，它可以被看作是噪聲系數(shù)測量結(jié)果軌跡上的噪聲量 (與 S 參數(shù)測量結(jié)果中的高電平軌跡噪聲類似，但通常還要大一些)，它與噪聲測量的時長和測試系統(tǒng)的帶寬有關(guān)。在 PNA-X 上通過增大噪聲平均值可以擴展測量帶寬或增加積分 (測量) 時間，從而把這種誤差來源的影響降低到可以接受的程度。噪聲平均值計算只是測量噪聲功率時在噪聲系數(shù)測量環(huán)節(jié)中會用到，它是獨立于在整個噪聲系數(shù)測量軌跡上所用的掃描平均而被特別控制的。

最后一個共有的誤差來源是測試系統(tǒng)的漂移，這主要是因為溫度的變化而引起的。測試系統(tǒng)始終存在著漂移，但它可以通過對系統(tǒng)的再次校準(zhǔn)而解決。

正如前文所述，人們希望噪聲系數(shù)測量是用理想的 50 Ω 測試系統(tǒng)進行。如果測試系統(tǒng)的源匹配不是理想的 50 Ω 的話，就會產(chǎn)生兩種測量誤差來源。如果這些誤差不被校正的話，那么它們往往會成為影響噪聲系數(shù)測量不確定性的最主要因素。

失配誤差

第一種因為不理想的系統(tǒng)源匹配產(chǎn)生的誤差來自于測試系統(tǒng)與被測器件的輸入匹配的交互作用，引起與噪聲信號頻率的失配。這種失配效應(yīng)與使用正弦信號測量 S 參數(shù)時的失配效應(yīng)相同，圖 5 顯示了使用 Y 因子法測量時的失配效應(yīng)。雖然大多數(shù)高頻 LNA 的輸入匹配額定值都是 50 Ω，但是實際輸入匹配會因頻率的不同而在這個值上下浮動。這對于噪聲源源匹配以及位于噪聲源和被測器件之間的任何電網(wǎng)絡(luò)的源匹配同樣適用。根據(jù)被測器件輸入匹配的不同，從噪聲源出來的一些噪聲功率會被放大器的輸入端口反射回來，假如噪聲源能夠提供理想的 50 Ω 匹配，那么反射的功率會全部被吸收， LAN 在 50 Ω 匹配條件下的真正噪聲系數(shù)也就可以測量。不過，如果噪聲源不能提供理想的源匹配，那么一些噪聲功率就會被再次反射回被測器件，這些被再次反射回來的信號會與原始信號形成相消或相長的互相干擾，這個由匹配的相對相位而定。如果頻率跨度足夠?qū)捘軌蝻@示一個或更多的反射周期，這種失配的效應(yīng)就可以從測試結(jié)果的典型紋波圖案中看出來。盡管經(jīng)常會因為頻率跨度太窄或測試點數(shù)太少的緣故而看不出紋波，但是誤差始終存在于測量結(jié)果中。

圖 5. Y 因子法中的失配誤差

對于使用 Y 因子法進行測量，由于噪聲源 (或噪聲源與適配器、電纜、開關(guān)或探頭級聯(lián)之后) 的不理想匹配，以及頻譜分析儀和噪聲系數(shù)分析儀無法用數(shù)學(xué)計算的方法來消除誤差的影響，失配誤差可以非常大。對于使用冷源法進行測量，失配誤差的大小取決于被測器件輸入端口上 50 Ω 端接的質(zhì)量；也可能與誤差校正技術(shù)的類型有關(guān)。用已經(jīng)過適當(dāng)誤差校正的 VNA 采用冷源法測量時，因為 VNA 可以測量測試系統(tǒng)和被測器件的 S 參數(shù)，并用數(shù)學(xué)方法對這種失配效應(yīng)進行補償，因此測量結(jié)果中的失配誤差極小。

噪聲參數(shù)的影響

很多測試工程師都不了解另一種同樣由不理想的系統(tǒng)源匹配引起的誤差。實際上由被測器件產(chǎn)生的一些噪聲會從器件輸入端口出來，經(jīng)過系統(tǒng)源匹配反射之后又重新進入到被測器件。這個被反射回來的噪聲會使被測器件的噪聲系數(shù)發(fā)生變化，這種變化取決于反射噪聲功率的相位和放大器內(nèi)部各種噪聲源的相關(guān)性，因此，測得的噪聲系數(shù)將隨著系統(tǒng)源阻抗而變化。

LNA 設(shè)計人員非常了解這種效果，他們會測量放大器的每個獨立器件的噪聲參數(shù)，這些噪聲參數(shù)可以幫助設(shè)計人員估算某個器件的最小噪聲系數(shù)，以及在怎樣的源阻抗 (最佳反射系數(shù)) 條件下才能獲得這個最小的噪聲系數(shù)。噪聲參數(shù)還會告訴設(shè)計人員，當(dāng)系統(tǒng)源阻抗偏離最佳值時，放大器的噪聲系數(shù)會發(fā)生怎樣的改變。對于給定阻抗的改變，噪聲系數(shù)的變化幅度對于放大器和變頻器來說是不一樣的，有些器件對源阻抗的變化是很敏感的，而有些器件則不是。了解了關(guān)于器件的噪聲參數(shù)和 S 參數(shù)的知識，LNA 設(shè)計人員就能夠針對具體應(yīng)用而著手設(shè)計匹配的電路，以便優(yōu)化放大器的增益和噪聲系數(shù)。

當(dāng)測量噪聲系數(shù)時，如果不對噪聲參數(shù)的影響進行補償，那么噪聲參數(shù)就會產(chǎn)生很大的誤差。在下一節(jié)里會詳細(xì)探討這個話題。